太赫茲時域光譜儀THz TDS1008

THz-TDS太赫茲時域光譜儀背景知識

基于超快激光的THz脈沖產生與探測技術發(fā)展起來的太赫茲時域光譜儀（Terahertz time domain spectroscopy, THz-TDS）技術，是本世紀80年代由AT&T貝爾實驗室（AT&T Bell Laboratories）和IBM公司的T.J.Waston研究中心（IBM Thomas J. Watson Research Center）提出的。BATOP太赫茲時域光譜儀THz-TDS技術屬于電磁輻射位相相干探測技術，是通過對THz脈沖不同時刻的電場強度進行位相相關的取樣測量，獲得THz脈沖電場的時域波形。再對THz時域波形進行傅立葉變換，獲得THz脈沖電場頻譜和位相信息。因此，太赫茲時域光譜儀THz-TDS可以同時直接探測被研究對象擾動的THz波電場振幅和相位雙重信息。

Batop公司簡介

BATOP成立于2003年，是一家曾隸屬于德國耶拿大學的私人創(chuàng)新型公司。公司配備了來自于實驗室領域的專業(yè)化技術開發(fā)和生產設計團隊，使得其公司產品具有很高的品質和具有競爭力的價格。在過去幾年里，BATOP一直致力于太赫茲光電導天線PCA和 太赫茲時域光譜儀系統(tǒng)THz-TDS的研發(fā)。BATOP不僅提供單帶隙光電導天線，還包括整合了微透鏡的高能大狹縫交叉光電導天線陣列。BATOP自主研發(fā)的太赫茲時域光譜儀THz-TDS性能穩(wěn)定，各項參數優(yōu)秀，功能多樣：可實現快速掃描、配合外置的光纖耦合天線實現角度掃描、成像等功能。 BATOP借助強大的研發(fā)能力來不斷提高自己的產品。

太赫茲時域光譜儀TDS10XX產品特點：

——內置樣品倉，可充氮氣進行透反射測量

——規(guī)格多樣的外置光纖耦合光電導天線可選

——外置角度掃描裝置可選

——外置成像模塊可選

——T3DS軟件支持

    TDS10XX太赫茲時域光譜儀各型號參數規(guī)格：

BATOP太赫茲時域光譜儀THz-TDS1008實測信號：

太赫茲時域光譜儀TDS10XX可選配件：

                       快速掃描模塊 FSU                                                              光纖耦合天線對 2FCA

成像模塊 IU （電機行程可選15cm、30cm 、45cm）                                            角度掃描模塊 T2T

透射樣品架 SHT（放在樣品倉內，用于透射譜測試）                           反射樣品架 SHR（放在樣品倉內，用于反射譜測試）

      光纖耦合天線樣品架 SHF（可測試透射反射譜）                          衰減全反射樣品架 SHA（用于衰減全反射ATR測試）

2歐元硬幣成像：

BATOP太赫茲時域光譜儀THz-TDS1008安裝現場：